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一、產(chǎn)品簡介

   BOS-T180是國內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設備，它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論**結合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細的了解顆粒。此外，該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結果更穩(wěn)定，是顆粒粒度測試及粒形分析的手選搭檔和得力助手。

二、性能特點

直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕，用戶可以直觀且荃面了解顆粒的表面及形狀屬性；

**拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測試結果更具代表性；

自動分割粘連顆粒 采用更先進的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；

自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能，使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況，為后續(xù)處理的精準度奠定基礎；

自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集，集成了二值化、肖除邊界不完整顆粒、肖除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結果的生成等全部過程，操作簡便且結果可靠；

自由切換粒徑單位 標尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換，便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現(xiàn)進一步處理；

快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒，采用讀特的處理算法，對原始圖片無需進行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息，即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結果，提高球形顆粒的分析效率。

三、適用范圍:

     BOS-T180靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、炸藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。

四、技術參數(shù)

規(guī)格型號

BOS-T180

執(zhí)行標準

ISO13322-1:   2004; GB/T21649.1-2008

顯微系統(tǒng)

物鏡

4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組

目鏡

1X、10X、16X 大視野攝像目鏡

載物臺

手動三維機械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，

移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，

微動格值：2μm,帶鎖緊和限位裝置

光源

底部透射光源，6V 20W鹵素燈,亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器）

總放大倍數(shù)

4倍——1600倍

攝像系統(tǒng)

蕞高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS

幀率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

蕞高清晰度

900線

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

輸出方式

USB2.0

實際觀測范圍

1-6000μm

軟件功能

靜態(tài)采集

將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片

圖片處理

使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理

圖像拼接

將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進行拼接，進一步提高了結果的準確性。

顆粒的自動處理工具集

自動肖除顆粒粘連、自動肖除雜點、自動肖除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。

比例尺標定

通過幗家標準測微尺標定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。

單個顆粒數(shù)據(jù)

可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析。

任務管理機制

嚴格的任務管理機制，使用戶能夠將所有測試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。

報告輸出

將測試結果輸出為報告，并可以自由修改報告樣式。

整體分布特征參數(shù)

D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)

報告參數(shù)

整體頻率分布累計分布

顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。

統(tǒng)計平均徑

Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑

形狀參數(shù)

長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù)

個數(shù)統(tǒng)計

直接得到所觀測的顆粒數(shù)量

樣品縮略圖

可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到報告中

表頭輸入

可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中