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儀器特性及優勢
儀器簡介 XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規試驗、縮短產品滯留時間，極小化實驗室分析時間而設計的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實驗室反應監測，并作為中試過程應用的補充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設計允許其在苛刻危險的取樣環境中直接使用。 XDS NIR 技術不僅帶來了優越的分析性能，同時加快了了定標方法的研發，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉移。使用先進、界面友好、具有聯網能力的 Vision?軟件可以輕松實現鑒定、定性和定量等方法。按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成準確的分析。 |
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