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Pascal(TOFLAS)
原子散亂表面分析儀器
尖端技術 : 表面分析 & 元素分析
絕緣材料結晶表面分析
極性表面的極圖分析
*表面數層非常靈敏,浮動狀態的電力類樣品也可以分析
表面結構可視覺直觀評估
完全不受電場和磁場影響in-situ 分析
單一原子層或結晶尺度的成長監測
薄膜, 超薄膜, 單層薄膜, 石墨烯 …等絕緣, 半導體 & 金屬
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產品質量
售后服務
易用性
性價比
GJT-2F系列金屬探測儀
QY型高純石英砂檢測儀
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
KER-60型 哈氏可磨性指數測定儀
介可視 AP 快速實驗室水分儀
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