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儀器特性及優(yōu)勢

儀器簡介

基于 XDS NIR 技術(shù)的 XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀對樣品瓶中固體的快速無損測量提供了新一代專用近紅外分析方案。 用戶可以采用 XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，縮短產(chǎn)品的檢驗(yàn)檢疫放行時間。無論在實(shí)驗(yàn)室，還是現(xiàn)場離線分析都可以對樣品瓶中的樣品進(jìn)行成分分析或材料鑒別檢測。該分析儀支持無人值守模式下的光譜采集，使操作人員能夠騰出時間準(zhǔn)備其它樣品、分析數(shù)據(jù)等。

XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀的通用樣品盤可實(shí)現(xiàn)瓶裝樣品的連續(xù)測量。內(nèi)置的光斑可調(diào)功能，可以根據(jù)樣品瓶直徑調(diào)節(jié)樣品的照度。 樣品中心定位卡環(huán)可用于單個樣品分析，而選配的粗顆粒分析單元則將固態(tài)樣品的分析范圍從精細(xì)粉末擴(kuò)大到粗顆粒、球狀顆粒和片狀顆粒等幾乎所有的固體。

XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了優(yōu)越的分析性能，提高了靈敏度，同時加快了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時間，保證了定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移。 使用先進(jìn)、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision® 軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成精準(zhǔn)的分析。