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賽默飛(原FEI)Quattro掃描電鏡
賽默飛(原FEI)Quattro掃描電鏡

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荷蘭

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暫無
賽默飛世爾科技電子顯微鏡

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Thermo Scientific™ Quattro™ 掃描電鏡將成像和分析的全面性能與獨特的環境模式(ESEM)相結合,使得樣品研究得以在自然狀態下進行。

如今,研究型實驗室普遍要求現代的掃描電鏡可以適應多種多樣

的樣品分析需求,希望在獲得出色的圖像質量的同時盡可能簡化

樣品制備過程。Quat t r o 的場發射槍(FEG)確保了優異的分辨

率,通過不同的探測器選項,可以調節不同襯度信息,包括定向背散

射、STEM 和陰極熒光信息。來自多個探測器和探測器分區的圖像可以

同步采集和顯示,使得單次掃描即可獲得各種樣品信息,從而減低束敏

感樣品的束曝光并實現真正的動態實驗。

Quattro 的三種真空模式(高真空、低真空和 ESEM™)使得系統極

具靈活性,可以容納任何 SEM 可用的*廣泛的樣品類型,包括放

氣或者是與真空狀態不相容的樣品。此外,ESEM™可以在現實世界

的條件下對樣品進行原位研究,例如濕/潮濕、熱或反應性的環境。

Quattro 的分析樣品倉可以滿足日益增長的樣品元素信息及晶體結構分

析需求,它同時支持相對的雙能譜(EDS)探測器、共面能譜(EDS)/電子

背散射衍射(EBSD)和平行束波譜(WDS)探測器。無論什么類型的樣

品,在高真空下或與 Quattro 支持的獨特實驗條件相結合,無論樣品導

電、絕緣、潮濕或是在高溫條件下,均可獲得可靠的分析結果。

由于多用戶設施要求大量操作人員都能獲得所有相關數據,同時盡可能

縮短培訓時間,所以易用性是至關重要的。Quattro 獨特的硬件由幫助功

能(用戶向導)支持,不僅可以指導操作者,還可以直接與顯微鏡進行交

互。并且通過“撤消(Undo)”功能,鼓勵新手用戶進行實驗,而專家用戶

可以輕松縮短結果獲取時間。

主要優勢

在自然狀態下對材料進行原位研究:具有環境真空模式(ESEM)的獨特高分辨率場發射掃描電鏡

**程度縮短樣品制備時間:低真空和環境真空技術可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析,樣品表面無荷電累積

在各種操作模式下分析導電和不導電樣品, 同步獲取二次電子像和背散射電子像

安裝原位冷臺、珀爾帖冷臺和熱臺,可在-165°C 到 1400°C 溫度范圍內進行原位分析

**的分析性能,樣品倉可同時安裝三個 EDS 探測器,其中兩個 EDS端口分開 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD

針對不導電樣品的**分析性能:憑借“壓差真空系統”實現低真空模式下的精確 EDS 和 EBSD 分析

靈活、精確的優中心樣品臺,105°傾斜角度范圍,可全方位觀察樣品

軟件直觀、簡便易用,并配置用戶向導及 Undo(撤銷)功能,操作步驟更少,分析更快速

全新創新選項,包括可伸縮 RGB 陰極熒光(CL)探測器、1100°C 高真空熱臺和 AutoScript(基于 Python 的腳本工具 API)

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10分

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