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熒光光譜分析儀Flex One性能特點：

● 一體化的光學調(diào)校

——整機設(shè)計，結(jié)構(gòu)穩(wěn)固，光路穩(wěn)定，確保高效性和易用性

● 簡單易用的雙樣品光路設(shè)計

——可隨意在水平和垂直光路上進行切

換，適用于各種常見的樣品夾具

● 超寬光譜范圍**

——200nm-2500nm

● 視頻監(jiān)視光路

——通過監(jiān)視器，查找微米級樣品，可供精確調(diào)整，定位測試樣品點● 多種激發(fā)波長可選**——266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等

● 自動mapping功能可選*——50mm×50mm標準測量區(qū)間，可定制特殊規(guī)格，步進精度1μm

特殊規(guī)格

● 電致發(fā)光(EL)功能可選*——擴展選項

● 顯微拉曼光譜測量功能可選*

——擴展選項

● 超低溫測量附件可選*

——可配置多種低溫樣品臺

*選配項，請詳細咨詢； **需根據(jù)實際需要進行配置確定

熒光光譜分析儀Flex One產(chǎn)品簡介： 光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導體材料的發(fā)光特性測量應用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm 等）激發(fā)材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜（即PL 譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應用。

傳統(tǒng)的顯微光致發(fā)光光譜儀都是采用標準的顯微鏡與熒光光譜儀的結(jié)合，但是傳統(tǒng)的顯微鏡在材料的PL 譜測量中，存在很大的局限性，比如無法靈活的選擇實驗所需的激光器（特別對于UV 波段的激光器，沒有足夠適用的配件），無法方便的與超低溫制冷機配合使用，采用光纖作為光收集裝置時耦合效率太低等等問題，都是采用標準顯微鏡難以回避的問題。

北京卓立漢光儀器有限公司結(jié)合了公司十余年熒光光譜儀和光譜系統(tǒng)的設(shè)計經(jīng)驗和普遍用戶的實際需求，推出了“Flex One( 微光）”系列顯微光致發(fā)光光譜儀，有效的解決了上述問題，是目前市場上高性價比的的顯微PL 光譜測量的解決方案。

熒光光譜分析儀Flex One系統(tǒng)組成● 激發(fā)光源部分：紫外-近紅外波段各種波長激光器● 顯微光路部分：優(yōu)化設(shè)計的專用型顯微光路● 光譜采集部分：影像校正光譜和高靈敏型科學級CCD或單點探測器和數(shù)據(jù)采集器● 樣品臺支架部分：xyz三維可調(diào)樣品臺（手動或自動）、超低溫樣品臺

熒光光譜分析儀Flex One參數(shù)規(guī)格表：