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NPFLEX 三維表面測量系統
針對大樣品設計的非接觸測試分析系統
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節
快速獲取測量數據，測試過程迅速高效
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統為精密制造業帶來****的檢測能力，實現更快的測量時間，提高了產品質量和生產力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統提供的技術性能超出了傳統的的接觸式坐標測量儀（CMM）和工業級探針式輪廓儀的測量技術。測量優勢包括獲得高分辨的三維圖像，進行快速豐富的數據采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術和大樣本的儀器設計的經驗，NPFLEXTM是**個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學測量系統，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節
測量數據的快速獲取保證了測試的迅速和高效
工商已核實
為客戶量身訂做*合適的儀器配置NPFLEX在基本配置的基礎上，還有很多備選的配件和配置方案，滿足不同客戶的測量需求：• 可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位，測量樣品的側壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復性好。• 獲得研發大獎的透過透明介質測量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊，，結合環境測試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對樣品進行加熱或者冷卻，進行原位測量。•可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側壁和底部孔洞。納米級分辨率的三維表面信息測量 大家對很多樣品的表面性質感興趣，但是要獲得這些品性質，需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應用在航空航 天，汽車，醫療植入產業的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測工具進行表征，獲得的只是一條線測量數據。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細節信息。NPFLEX測試系統采用白光干涉原理，在每一個測量點可以實現表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數據不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結果，更多的測量數據來幫助分析樣品性質。 快速獲取數據，保證測試迅速高效 NPFLEX三維測量系統，能夠靈活高效的獲取大量測試數據。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設置時間，操作者可以快速更換樣品，而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下，對樣品的不同表面進行測量。僅需要不到15秒的時間，就可以出色地完成一個測量點的數據采集和分析工作。自動對焦，光強調節以及其他配套軟件功能，大大節約了測試分析時間，而且可以根據操作者的實驗需求，量身定做**化的實驗方案，而不影響數據的精度和質量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準確地獲得大型零部件的高精度測量結果，提供一站式的測量解決方案。 布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel— 歡迎訂閱優酷上Bruker Nano Surfaces的相關視頻，觀看**的AFM產品和相關技術進展，以及歷屆網絡研討會和培訓資料，精彩內容持續更新中！ 布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces 北京辦公室北京市海淀區中關村南大街 11號光大國信大廈6層 6218室電話：010-68474806 -630 傳真：010-88417855上海辦公室上海市徐匯區漕河涇開發區桂平路 418號新園科技廣場 19樓E-mail：Sales.asia@br*************產品咨詢熱線：400-89****** \SOM 暫無數據！
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