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便攜式碳材料分析儀BWS475-532H-CRA
便攜式碳材料分析儀BWS475-532H-CRA

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產地

美國

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必達泰克光電科技(上海)有限公司

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拉曼光譜可進行無損檢測,是碳納米材料的理想分析工具。Carbon Raman Analyzer正是一款專門為碳材料檢測設計的便攜式拉曼光譜儀系統,可用于各種碳材料的檢測,包括石墨烯,氧化石墨烯,碳納米管和碳納米纖維等。碳材料的拉曼光譜通常有三個主要的特征峰:G峰,D峰和2D峰(也稱為G’峰),這些特征峰與其質量和微觀結構息息相關,如碳材料的結晶度和無序程度就可以通過峰的位置,峰形和峰強度來判斷。

B&W Tek的Carbon Raman Analyzer碳拉曼分析儀(CRA)是一款激光波長為532nm的便攜式拉曼系統,采用背照式致冷CCD檢測器,致冷溫度可達到-25℃,光通量大,靈敏度高,標配光纖采樣探頭。無需樣品前處理,是粉末狀材料分析的理想選擇。Carbon Raman Analyzer配備一個可調節平臺的探頭支架和一個遮光專用外殼,方便數據采集。另外,儀器預裝BWSpec®軟件,用于實驗參數設置、數據收集,也可以通過編程自動計算各種參數,例如D峰和G峰的強度比等。BWSpec®可以計算并監控多達六個變量,同時在趨勢圖和表格中顯示實時結果。這種易用性,使得石墨烯制造商在產品質量控制和監控方面能進行實時的在線檢測。

應用:

石墨烯G峰的峰位移變化,G峰的峰形離散度,G峰與2D峰的面積比

石墨烯或氧化石墨烯的ID/IG值

碳納米管的ID/IG,單壁納米管的RBM

碳納米纖維的CNT重量百分比和ID/IG值

炭黑材料的IID/IG值制造過程殘留物(如氧化鐵)的檢測

特征:

532nm激發波長,便攜式設計可以隨時隨地進行檢測

配備BWSpec®軟件,可自動顯示結果和趨勢圖

無需顯微鏡

無損分析

無樣品制備

技術規格:

型號

BWS475-532H-CRA

激光安全等級

3B

電源

交流供電

100-240V AC 50/60 Hz

電池

可選

物理參數

尺寸

40 cm×26 cm×25 cm

重量

~8.8 kg

工作溫度

0 ℃ – 35 ?C

儲存溫度

-10 ℃-60℃

濕度

10% - 85%

附件(標配):

拉曼光纖探頭

激光護目鏡

附件(選配):

浸入式拉曼探頭

顯微鏡適配器

視頻顯微鏡

拉曼流通池

液體樣品池支架

拉曼探頭支架

墨烯D峰強度,G峰強度,ID/IG

樣品

ID

IG

ID/IG

1

216.25

2851.33

0.0758

2

184.20

2898.98

0.0635

3

210.14

3067.50

0.0685

4

449.27

2987.06

0.1504

5

188.05

2101.31

0.0895

6

957.56

2052.60

0.4665

不同缺陷程度的石墨烯拉曼普圖

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