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隨著市場上自由曲面光學元件的興起和對日益復雜測量解決方案需求的不斷增長，英國泰勒霍普森公司研發生產出了可滿足自由曲面測量要求的多用途、高分辨率接觸式測量系統——Form Talysurf® PGI Freeform。

Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面測量系統使得制造商能夠精確測量其光學元件并與設計資料進行比較。該系統采用柵式/徑向掃描方式進行測量，可以提供球面元件、非球面元件、衍射元件及自由曲面等面的三維光柵及徑向分析。

Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面測量系統可以測量環面、雙錐面、合成非球面、橢球面、NURBS樣條曲面、非球面柱面、點云以及Zernike定義的曲面等等。

Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面測量系統基于幾十年的測量經驗的積淀，超精密生產經驗以及有限元優化設計，提供了低噪聲和近乎**的機械運動軸。測針測量范圍可達到28mm，分辨率可達0.8nm，測量角度到達50°，面型誤差小于150nm。