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超納NanoX-S 3D光學干涉輪廓儀設備，外觀精致小巧，體積小，重量輕，測量精度高，測量時間短，操作簡單方便。適用于先進制造業(yè)中微米、納米級結構表面微觀特征的三維精密測量，包括表面 粗糙度、表面輪廓、臺階高、表面缺陷、微 觀形貌、薄膜厚度等等。同時適用于大專院校實驗平臺，科研院所以及各類專業(yè)檢測平臺實驗室。
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