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  X200手持式光譜儀是專為現場金屬材料分析，野外礦物元素分析及土壤重金屬分析而研發的一款手持元素分析設備，采用X射線熒光技術，分析速度快，結果準確，操作簡單，整體設計適用野外高溫，雨淋，多塵等多變的作業環境。

具有以下特點：

分析速度快且精度高

    X系列X200手持式光譜儀是美國Don Sackett 博士所帶領的團隊繼 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研發第5代手持XRF分析儀器；采用硬件及軟件.

體積小，輕便便于攜帶

    X200手持式光譜儀的X射線分析儀器更小更輕。將用戶的需求和我們數10年積累的XRF知識結合，輕，小，省力，分析速度快，分析效率高的手持式X射線分析儀器X系列。重約1.34斤。

高清顯示技術

    采用技術5”大顯示屏，結果在所有光照條件下都清晰可見

質量好，耐用

    獨特不銹鋼防護罩，SciAps  X 分析儀采用工業級雙層探測器保護技術，極大的降低了X分析儀損壞的風險，降低了后期擁有成本。

操作簡單，兼容性好的操作平臺

    SciAps  X  系列分析儀與手機一樣運行安卓系統，操作簡單，兼容性好，可以通過藍牙或無線與電腦及打印機連接，分享與打印測試結果。

SciAps XRF X-200 軟件特點及應用

軟件特點：

    與X 系列的其它儀器相比，SciAps X-200 采用一種新的X射線管及分析方法（**申請中），該方法將鋁合金材料分析的速度又提高了一個檔次，且對高溫合金和不銹鋼等金屬的分析性能與其它儀器一樣。

主要應用：

    合**號識別

    快速識別各類合**號

    快速分揀鋁合金

    90%以上的鋁合金在2-5秒鐘之內就可以識別開來；極大的提高了鋁合金的分揀速度及效率。

合金元素合規檢測

    X-200 ****的輕元素分析功能，可以快速精確的分析低含量的Mg, Si, Al, P, S, 及其它常規金屬元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb。

分析鍍層元素厚度（選配）

    客戶可以根據公司分析需求選配鍍層分析模式

技術參數：