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J200飛秒激光剝蝕進樣系統
J200飛秒激光剝蝕進樣系統

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美國

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暫無
北京布拉德科技發展有限公司

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J200飛秒激光剝蝕進樣系統是ASI公司的技術團隊擁有30多年激光剝蝕技術的基礎研究經驗和LA-ICP-MS方法的研究背景,系統通過非熱過程,施加超高激光輻射剝蝕樣品,產生的顆粒能在ICP源完全消解,確保在測量過程中獲取高精度、穩定的元素或同位素信號,J200LA-fs剝蝕均勻一致,剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性,無需高度匹配的標準物質,也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。

設備特點:

1、測量葉片內部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況;

2、同步開關確保穩定的ICP-MS等離子體狀態;

3、兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像和廣角圖像呈現;

4、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態;

5、系統能完成具有挑戰性的化學分析工作;

6、確保在測量過程中獲取高精度、穩定的元素或同位素信號;

7、剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性,無需高度匹配的標準物質。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統技術指標:

激光器工業級高頻Ytterbium diode飛秒激光器,343 nm和1030 nm,頻率可調10KHz
能量控制連續可調光學衰減器,集成激光能量監測單元
激光光閘自動光閘保證激光能量穩定
激光脈沖能量(激光頭輸出)150μJ/脈沖 @ 343 nm* , 1mJ/脈沖 @ 1030 nm
激光光斑大小控制3-70微米,結合了自動光束擴展器和狹縫成像

光斑大小范圍取決于不同設備的型號,可用戶自定義光斑大小范圍

自動X-Y軸100 mm X 100 mm 行程范圍,分辨率0.2微米
自動Z軸35mm行程范圍,Z軸可以實現樣品自動高度調整,分辨率0.5微米
剝蝕點定位紅色激光具有更好的信號精度,ASI的自動對焦技術
樣品圖像高分辨率的雙CMOS鏡頭,用于高倍放大和大視野預覽,支持光學變焦
樣品成像光源泛光LED燈,同軸反射光和透明光源,正交十字光
氣體控制雙路數字流量控制器,可選第三個流量控制器(用于氮氣或其他氣體)

電控兩向和三向閥,ASI**氣體控制單元

樣品室Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片,適合不同大小的樣品

Vertex™樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運送能力

可用戶自定義樣品固定裝置,ASI**LIBS測量兼容性

與ICP-MS通訊在J200和ICP-MS之間實現雙向控制
LIBS檢測器

(僅適用于Tandem系統)

Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器
儀器軟件Axiom LA系統操作軟件,ASI**的TruLIBS™發射光譜數據庫(用于Tandem系統)

Clarity Femto數據處理軟件(處理LA-ICP-MS和LIBS的數據,進行定量計算/物質分類)

激光安全等級一級激光產品,樣品加載區域有光學安全隔離板,激光自鎖保護裝置
系統尺寸70” (長) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機)

75” (長) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器)

重量600 lbs [272Kg](僅LA主機);600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器)
供電要求110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A
質保所有硬件和軟件質保一年,飛秒激光器質保兩年
認證CE認證
可選項LA升級為Tandem系統
延保可簽署多年質保和服務協議

J200飛秒激光剝蝕進樣系統產生的樣品顆粒均勻一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,運輸效率高,該設備功能直觀、帶圖形界面,易瀏覽不同的樣品區域,設立靈活的采樣方式,用戶簡單、方便地操作硬件部件,只需簡單點擊tab鍵,用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統、光模塊、3-D操作臺、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態,不同用戶組可賦予不同的使用權限,同步開關確保穩定的ICP-MS等離子體狀態,防止等離子體火焰噴出。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。

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10分

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10分

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