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石墨烯和2D材料表征
Onyx是市場上設計用于提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全區域非破壞性表征的系統。
Onyx彌補宏觀工具和納米工具之間的空白，可以檢測從0.5 mm2到大面積（m2）的特征，從而增強研究材料的工業化水平。與其他大面積測試方法（例如四探針方法）相比，Onyx能夠測量樣品質量的空間分布。與顯微方法（例如拉曼，SEM和TEM）不同，可以數百微米的空間分辨率快速表征大面積的樣品。
Onyx是一種超快速系統，用于石墨烯，2D材料樣品或復雜涂層的大面積表面的非破壞性均勻性分析。
Onyx涵蓋了目前用于研究材料表征的宏觀尺度方法（光學顯微鏡，直流電導率......）和納米尺度方法（拉曼共聚焦光譜，AFM，TEM ......）之間的差距。
該系統基于das-Nano專有的**方法，通過單面（正反射）檢測提供任何材料的整個區域的電導，電阻，折射率，厚度和介電參數。結果是提供沉積均勻性的圖，并因此評估材料的整個區域生產的質量。該技術將使研究界提高其工作的效率和功效，從而縮短產品和應用的上市時間。此外，該技術可以在線實施，因此，在相同的評估方法中可以在未來的產品制造階段中使用
移動性和載流子密度
Onyx不斷改進其功能，以提供新結果，從而極大地提高其潛力。Onyx將移動性和載流子密度分析合并到其先前的功能中。僅在一次測量中，該系統即可精確提供以下物理屬性：直流電導，σDC、直流電阻，RDC、載流子散射時間、載流子遷移率，μ漂移
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