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一、主要特點
(1)、可對C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)進行無損定性、定量分析；
(2)、采用**WAG(Wide Angle Geometry)技術，配備8個二次靶；
(3)、8款管濾光片，更快更精確的測定微量及痕量元素；
(4)、標準配置硅漂移探測器SDD，適于高和低原子序數的元素分析檢測；
(5)、針對輕原子序數元素，可配備分辨率達123eV的SDD LE探測器；
(6)、外型堅固耐用，適于移動實驗室，符合沖擊試驗MIL810E規格；
(7)、檢測光斑可變，適于不同尺寸和形狀的樣品檢測；
(8)、配備集成電腦、專業nEXt™分析軟件，操作方便；
二、二次靶激發技術介紹
二次靶激發技術能**程度的去除散射背景，提高信噪比，降低檢測器的檢測限。如圖，樣品為含少量Cr，Mn，Fe雜質的Ni合金。當直接激發時(綠)，雜質元素的吸收信號被Ni元素的吸收信號淹沒；相反，使用Ni二次靶激發時，雜質元素的吸收信號被大大加強。
三、主要技術參數
系統規格 | SDD 版本 | SDD LE |
測量范圍 | F(9) - Fm(100) | C(6) - Fm(100) |
測量濃度 | 次 ppm -100% | |
X-射線管靶材 | Rh靶 | |
X-射線管電壓/功率 | 50kV， 50W | |
激發類型 | 直接激發和二次靶激發 | |
探測器 | 硅漂移探測器SDD | 超級 SDD |
分辨率(FWHM) | 129eV ± 5eV | 123eV ± 5eV |
自動進樣器 | 8位 | |
工作環境 | 空氣/真空/氦氣 | |
管濾光片 | 8款軟件可選 | |
二次靶 | 8種 | |
操作軟件 | nEXt™分析包(包含基礎基本參數法) | |
選配件 | 16位自動進樣器、專業基本參數法、真空泵、氦氣凈化器等 | |
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