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我公司推出OLED器件和鈣鈦礦LED發射角度光譜分析系統（OLED光譜分析儀）、載流子遷移率測量系統、電學性能評估系統以及軟件模擬研發系統，為廣大科研工作者和研發機構提供了有力的測試工具。
主要測試功能： OLED效率測量/EQE測量，Lm/W 和 Cd/A；
發射角度測量；
光譜&顏色測量@發射角；
CIE xyY測量；
視角測量；
IVL(電流—電壓—亮度)測量；
PL光致發光和EL電致發光測量；
極化測量；
主要技術規格：
角度范圍：-85°~+85°；
光譜范圍：360nm~880nm，分辨率1.2nm;
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