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用 途
•在光學冷加工中用于檢驗球面和非球面的質量
•測定光學零件或光學系統的像差,如球差、像散等
•測定凹球面的曲率半徑
•檢驗光學材料中的缺陷,如條紋,不均勻性等
•光學系統的檢驗和裝配,用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面
技 術 指 標
•相對孔徑:D/F=1:2
•小孔直徑:0.03,0.06,0.08,0.2,0.5,1mm
•狹 縫 寬:0.05,0.15mm
•儀器重量:2KG
•粗調升降:70mm
•微調升降:15mm
•移 動 量:縱向橫向各15mm
•讀 書 值:0.01mm
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