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產品概述：
KEWLAB余弦校正器是一種可以收集180°的光譜輻射的采樣元件，從而避免光學采樣時由于光學接口幾何結構限制所引起的問題。
余弦校正器采用聚四氟乙烯漫射材料，對200～1100nm譜段進行優化。其中CC1與SMA接口的光纖連接，CC2與微型光譜儀連接，用于測量分析LED光、激光、UV-A和UV-B太陽輻射光、環境光和其它發光光源。
產品特點：
• 可收集180°視場角的光
• 采用聚四氟乙烯漫射材料
• 不同接口可定制
應用：
• 光源的光譜測量分析
技術參數：
型號 | CC1 | CC2 |
有效直徑 | 4.2mm | 5.8mm |
尺寸 | 直徑7mm， 長度20mm | 直徑12.7mm， 長度8mm |
漫射材料 | 聚四氟乙烯 | 聚四氟乙烯 |
波長范圍 | 200～1100nm | 200～1100nm |
采樣幾何結構 | 采樣180°視場角的光 | 采樣180°視場角的光 |
光纖接頭 | SMA905 | SMA905 |
使用環境溫度 | -30℃～100℃ | -30℃～100℃ |
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