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HORIBA (JOBIN YVON技術)公司iHR系列成像光譜儀采用一體化結構鑄造，保證了極好的機械強度、溫度穩定性，機身無接縫，避免漏光引入雜散光。采用非對稱式Czerny-Turner光路設計：優化成像質量、消除二次衍射光、實現光通量**化。
iHR成像光譜儀與CCD聯用后具有強大的功能。超環面反射鏡能夠有效糾正成像時產生的散光、正切方向優化分辨率、弧矢方向優化成像。CCD位置可調，從而可以靈活地選擇成像優先和分辨率優先。同時，采用非對稱式光路設計及光柵在軸掃描**技術，可以有效減少彗差和其它像差，使iHR成像光譜儀具有更寬的平場范圍。此外，iHR成像光譜儀采用比準直鏡尺寸更大的超環面聚焦鏡，焦平面邊緣無光通量損失，使整個平場范圍內無暗角。
產品特性：
- 獨特的光學設計
- 優異的成像性能
- 無二次衍射光
- 靈活配置，使用方便
- 精密的機械制造
- TE制冷或液氮制冷探測器可選
產品指標：
型號 | iHR320 | iHR550 | |
焦長 | 320mm | 550mm | |
相對孔徑 | f/4.1 | f/6.4 | |
光譜范圍 | **覆蓋150nm-40um（取決于所選光柵與探測器類型） | **覆蓋150nm-40um（取決于所選光柵與探測器類型） | |
光柵尺寸 | 68mm x 68mm | 76mm x 76mm | |
塔輪上光柵數 | *多3個 | *多3個 | |
焦面（平場）尺寸 | 30mm x 12mm | 30mm x 12mm | |
分辨率(狹縫/PMT) | 0.06nm | 0.025nm | |
波長精度 | ±0.2nm | ±0.2nm | |
重復性 | ±0.075nm | ±0.075nm | |
光譜色散(@500nm) | 2.31nm/mm | 1.34nm/mm | |
放大率 | 1.1 | 1.1 | |
雜散光* | 1.5x10-4 | 1x10-5 | |
掃描速度 | 160nm/s | 160nm/s | |
步長 | 0.002nm | 0.002nm | |
計算機接口 | USB2.0 | USB2.0 | |
尺寸 | 長x寬x高 | 417x422x192mm | 648x460x193mm |
光軸(從儀器底部算起的高度) | 98mm | 98mm | |
重量 | 20Kg | 28Kg | |
*雜散光測量條件：采用HORIBA Scientific全息光柵，在離514nm激光線波峰基線1nm遠處測量。所有參數基于1200 lines/mm光柵，在435nm處得出。
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