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AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過SEM-AFM共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察分析。

特點

1. 自動化功能

高度集成自動化功能追求高效率檢測

降低檢測中的人為操作誤差?

4英寸自動馬達臺

自動更換懸臂功能

2. 可靠性

排除機械原因造成的誤差

大范圍水平掃描

采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對掃描器圓弧運動所產生的曲面，通常通過軟件校正方式獲得平面數據。但是，用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運動的影響，圖片上經常發生扭曲效果。AFM5500M搭載了**研發的水平掃描器，可實現不受圓弧運動影響的準確測試。

樣品：硅片上的非晶硅薄膜

高精角度測量

普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時候，會發生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產生形貌誤差的直接原因。AFM5500M中搭載的全新掃描器，在豎直方向上不會發生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。

樣品 : 太陽能電池(由于其晶體取向具有對稱結構)

* 使用AFM5100N（開環控制）時

3. 融合性

親密融合其他檢測分析方式

通過SEM－AFM的共享坐標樣品臺，可實現在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌，結構，成分，物理特性等。

SEM-AFM在同一視野觀察實例（樣品：石墨烯/SiO₂）

上圖是AFM5500M拍攝的形貌像（AFM像）和電位像（KFM像）分別和SEM圖像疊加的應用數據。

通過分析AFM圖像可以判斷，SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。

石墨烯層數不同導致表面電位（功函數）的反差。

SEM圖像對比度不同，可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。

與其他顯微鏡以及分析儀器聯用正在不斷開發中。