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PlasCalc等離子體監控系統
PlasCalc等離子體監控系統通過測量等離子體反應腔的發射光譜,實時監測反應腔內的等離子體組分和密度、等離子體溫度、電子密度等參數。由等離子體發射光譜的強度值可計算得出等離子組分、顆粒密度及電子密度;由同一電子的能量吸收譜線同另外譜線的對比可計算得出電子溫度。測量輸出結果,可反饋控制等離子體的發生,從而獲得**的反應流程和效果。
PlasCalc等離子體監控系統主要包括:高性能線陣CCD光譜儀、傳輸光纖、接收透鏡、過程監控裝置及測量分析軟件。
PlasCalc應用于測量等離子體鍍膜沉積情況,監測等離子濁刻,檢查表面清潔處理,分析等離子反應腔控制情況,監測異常污染排放現象,磁控濺射、光學鍍膜、終點測量、開發等離子過程的監測和控制優化。
PlasCalc等離子體監控系統基本性能:
●測量范圍:測量發射光譜獲得等離子體組分/密度/電子溫度等參數
●光譜范圍:200-1100nm
●探測器:2048像素CCD
●光譜分辨率:1nm
●A/D轉換:14位
●通訊方式:USB1.1
●供電方式:直流12V;1.25A
●應用場合:等離子體鍍膜沉積/等離子體監測/安全監控/反映過程優化/終點測量
◆PlasCalc等離子體監控系統應用軟件
-實時在線監測等離子過程的發射光譜
-監測和控制的雙屏幕技術
-8數字量輸入/輸出;4模擬量輸出
-終點、啟動、停止及限位的信息音提示
◆備選附件
-SpecLine Software:峰值查找和譜線辨別
-UV & UV-VIS & NIR 傳輸光纖
-COL-UV-6 & COL-UV-30準值透鏡
-VFT真空接管
-PVFT-UVX & PVFT-UVX真空法蘭接頭
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產品質量
售后服務
易用性
性價比