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產品簡介
波前傳感器是自適應光學系統的重要組成部分，用來實時探測由于大氣湍流引起的入射光波前畸變。Shack-Hartmann波前傳感器通常由微透鏡陣列和CCD光電傳感器組成，是以波前斜率測量為基礎的波前測試儀器，并擁有時-空分辨率高、光能利用率高、結構簡單等優點，已成為現代自適應光學系統主要采用的波前傳感器。
屹持光電新推出的夏克-哈德曼波前分析儀WFS3743-40-200可在線分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的測量光學器件的像差。可以用于手機和相機的鏡頭等光學透鏡質量控制。夏克-哈特曼式傳感器的波前監控器配合外部軟件可用于波前數據分析。
產品應用
的波前；
√ Raylux√ 用于透鏡的質量控制
規格參數
| 測量精度 | λ / 1000 | 曝光時間 | 10μs - 120 s |
| 數據解析度 | 12 Bit | 幀率 | 15fps |
| 微透鏡個數 | 45×35 | 探測器類型 | 2/3CCD |
| 有效區域 | 8.97×6.71mm | 微透鏡大小 | 200μm |
| 焦距 | 40 mm | 動態范圍 | 90 λ |
| 透鏡焦距 | 7 mm | 曲率半徑 | 14 mm |
| 像素尺寸 | 6.45μm | 像素 | 1380 x 1040 |
軟件界面
Shack-Hartmann波前傳感器原理簡介
Shack-Hartmann波前傳感器使用一個微透鏡陣列將輸入波前分割成微光束陣列。每束光聚焦到放置在微透鏡陣列焦平面處的CMOS相機上，如右圖所示。若均勻的平面波前入射到Shack-Hartmann傳感器上，每個微透鏡沿其光軸形成一個光斑，這將在探測器上產生規則的光斑柵格。
然而，畸變波前將會引起一些小透鏡聚集的光斑偏移其光軸。因此，傳感器上的成像光將由規則的光斑柵格混雜偏移的光斑和缺失的光斑構成。這些信息可用于計算入射到微透鏡陣列上的波前的形狀。Shack-Hartmann型波前傳感器可用于表征光學系統的性能。此外，它們越來越多地用于實時監測波前，以控制自適應光學元件在成像前消除波前畸變。
如上所討論，微透鏡陣列的每個微透鏡收集照在其光圈上的光，并在探測器平面上產生一個光斑。下圖詳細介紹波前入射到單個微透鏡上。只有當入射波前是平面的且平行于小透鏡平面時，光斑的位置才直接落在透鏡（綠色顯示）的后方。對于在微透鏡區畸變的波前，光斑位置將在X和Y方向（紅點顯示）偏移，因此每個光斑將以θ角偏離其相應的微透鏡的光軸Z。如圖中所示，該角度θ與畸變波前和平面波前間的角度相同。
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