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強大的通用性與**分辨率的**結合

JSM-7500F場發射掃描電鏡的電子光學系統將場發射電子槍和半浸沒式（semi-in-lens）物鏡組合為一體，場發射電子槍在低加速電壓下也能夠將電子束聚焦得很細，與通用型掃描電鏡一樣，對大樣品也可以進行高分辨率的觀察。

GB模式（即柔和光束）能以極低能量的入射電子束觀察樣品的淺表面

通過給樣品加以偏壓并照射電子束，能夠利用分辨率高于一般模式的GB模式，與能獲得高分辨率的電子光學系統配合使用，JSM-7500F可用能量為數百電子伏的入射電子束對樣品的淺表面進行高分辨率觀察，這是迄今為止所未能實現的。

新型r-過濾器對二次電子和背散射電子的選擇性檢測

新型 r-過濾器有標準SB（二次電子檢測）模式、標準BE模式（背散射電子檢測）、Sb模式（二次電子優先）和Bs模式（背散射電子優先）四種模式。Sb模式能檢測以任意比例和背散射電子混合的二次電子，Bs模式能檢測以任意比例和二次電子混合的背散射電子，這些功能在簡明易懂的菜單上都可一鍵操作完成。