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儀器簡介：

帕納科是全球X射線衍射分析儀器和X射線熒光光譜分析儀器及軟件的主要供應商，具有半個多世紀的行業經驗。分析儀器主要應用于科學的研究和發展、工業過程控制以及半導體材料的物性測量領域。

品牌成立于1948年，總部位于荷蘭的Almelo，帕納科的研究工作是以荷蘭的Almelo 和英國的Brighton的Sussex大學為基礎展開的。零配件供應及技術支持中心位于荷蘭的兩個城市：阿爾默洛Almelo（生產和研發X射線裝置） 和埃因霍溫Eindhoven（生產和研發X射線光管）。覆蓋全球60多個國家和地區的銷售和服務網絡確保了專業、及時和可靠的客戶支持服務。

X'Pert Powder，配置超能陣列探測器，速度與強度的理想組合，滿足各種粉末應用要求，具有無限擴展性。

超高頻X射線發生器采用第二代陶瓷X光管**技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換X光管后無需重新校準路立式測角儀，采用DOPS直接光學位置編碼**技術

儀器應用：

帕納科的生產業務范圍包括X射線熒光光譜儀和X射線衍射儀分析儀器系統及軟件，產品范圍多樣化，廣泛適用于產品的組成分析、材料的特性分析，應用范圍如：水泥、金屬和鋼鐵、納米材料、塑料、聚合物和石油化工、工業采礦、玻璃和高分子、催化劑、硅半導體芯片、薄膜和高級材料、藥用液體、可再生原料、環保樣品等分析領域。

靈活、易用

用于粉末分析、物相分析、物相定量

利用有限的追加投資，您可以：

• 進行薄膜分析

• 進行納米材料顆粒大小確定

• 觀察溫度對材料性能的影響

• 對多個樣品進行自動化分析

• 受益于光學、樣品臺、探測器、X射線管和分析軟件的**發展

主要特點：

靈活——無論是工業生產控制還是深入的材料研究，均可根據單獨的帶藥求進行定制。從未知物相鑒定和混合物定量，到諸如殘余應力和晶粒擇優取向的微觀結構屬性測定，系統的應用不受任何限制，在所有領域都體現出高性能。在常溫或非環境溫度條件下，均可對塊狀材料以及薄膜進行分析。

快速——得益于帕納科榮獲**的光學部件和平臺PreFIX-即預校準光路的安裝方法，只需幾分鐘即可完成重新配置并執行不同類型的分析。

前瞻性——如果出現新的應用，只需增加必要的模塊即可。開放式硬件設計結構確保了X'Pert Powder與將來X射線衍射方面的開發兼容。

技術參數：

1，功率：3kW

2，測角儀重現性：0.0001度

3，設備尺寸：1975×1132×1371 mm (H×D×W)

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