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Optino 波前探測系統

不僅僅是一個波前探測系統，

更是一個完整光學綜合測試系統

不僅可以用于實驗室光學測試，

也可以適用于生產環境條件

可測試的光學元件和系統

可測試評價的項目

主要型號及功能特點

產品系列	主要特點
Omi	基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型，價格優惠
Optino Uno	基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型增加一個固定的準直器，用于光源準直。具有所有光學分析所需的基本功能，包含光纖光源。 15 種針對不同測試需求的配置無隔行快速讀出 1Kx1K 相機信號固定準直器（平行光管）基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多項式系數、波陣面、Strehl Ratio 等. 軟件根據測到的像散、球差等提供調校指令根據軟件的圖形指示，依據參照標準或鏡面的CCD像面，對光學元件的焦距進行實時斜率調整圖像分析功能根據Shack-Hartmann 數據計算MTF、PSF、EE等數據（可選配置）仿真模擬功能（可選配置）
Optino Pro 專業版	具備Optino Uno 功能外，增加馬達驅動的準直器（平行光管），以及先進的軟件功能，具備高度自動化。準直器可自動尋找焦點，也可對光束進行分析。
Optino EE 工程版	具備Optino Pro 所有功能，具備更強大的軟件功能，并經過優化，可以使用生產環境中使用，測試速度快。采用回饋環路控制，并以10Hz的采樣頻率進行光學質量測試。
Optino+ Beam profiler 光束分析	具備Optino Pro所有功能，另外加裝第二個CCD，用于光斑形貌分析，光束失常及測量可同時在一臺設備上實現。

干涉儀與波前探測系統比較

Optino 波前測試系統相對于干涉儀的優點

	干涉儀	Optino 波前系統
1	購買、運行、維護費用高	非常便宜
2	系統體積大，需要大型光學平臺	結構緊湊，普通桌子就可以
3	需要昂貴的隔振平臺	非常耐用，無需隔振，普通桌子就可以，即使重擊桌子也不會影響測試結果或儀器性能
4	需要潔凈室	普通干凈的實驗室環境足夠了
5	需要控制測試現場的氣流	可以在緊靠打磨機器工作現場使用
6	需要激光光源	普通光源或激光均可
7	由于激光波長范圍有限，只能工作在有限的幾個波長	任何波長均可工作，從193nm到1700nm，軟件功能不受波長和配置的影響
8	僅限于測試平面、球面及淺度非球面測試	可以測試深度非球面元件（球形失常值達50λ）
9	不能測試非規則形狀元件	可以測試非規則元件，如柱面鏡
10	動態范圍受CCD探測器上干涉條紋限制，	方法本身具有高動態特性