SPECTRAFIRE 有2種測試模式,**測量模式和相對測量 (差分式)模式。在**測量模式中,近法向如射,半球反射率通過與配有校正臂的內置探測器直接測到。在這種情況下,無需校正。在相對測量(差分式)模式下,內置校正臂不起作用,而是提供一個參考樣品進行背景扣除,然后測試樣品。 此外,該系統通過特殊標定的參考根據樣品的光譜,來得到不透明樣品的總半球發射率。使用Spectrafiar計算發射率并不需要知道光源的光譜,也不一定需要限定光源的色溫在300K. SPECTRAFIRE 還可以用于正確的測量300K以外的發射率和非灰體的 發射率。 準直的紅外光束從Nicolet紅外光譜儀進入到SPECTRAFIRE左邊的入口處。通過一個離軸拋物面鏡將該光束匯聚到樣品上。樣品口在系統的頂部,樣品置于**的收集器的頂部。入射光經樣品反射并被收集匯聚到探測器上。探測器的信號由FTIR光譜儀進行處理。.在收集器里還內置一個光束偏離裝置,用于**測量時的背景扣除。該偏離裝置的反射率完全匹配收集器的反射率 。儀器里面的所有光學元件都鍍了非保護性金膜,以獲得在測試光譜范圍內的**反射率。 |