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CCD 光電性能測量系統又稱CCD成像電子學系統光電聯試定量測試設備。本系統能夠解決空間光學遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設計及輻射校正設計及為光電成像器件受輻照后性能變化的機理研究提供檢測手段等諸多科學問題；同時能夠在業界對光電成像器件抗輻射性能評價的標準化和規范化起到積極推進作用。

技術指標

• 工作光譜波段：380nm~1000nm

• 光譜分辨率：20nm~40nm

• A/D 量化等級：14bit

• 動態范圍：80dB

• 測量**值不確定度：低于8%

• 重復性誤差：不大于3%

測試內容

• 飽和輸出電壓（SV)

• 飽和曝光量 （SE)

• 光輻照響應度（燈光照明下的R)

• 相對光譜響應度 Rs

• 響應度非均勻性（PRNU)

• 電荷轉移效率（CTE)

• 光譜和白光傳遞函數（MTF)

• 暗信號 （DS)

• 暗噪聲 （v_NOISE )

• 噪聲等效曝光量（NEE)

• 動態范圍 （DR)

• 非線性度 （NL)

• 固態圖片噪聲 （FPN)