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Aep Technology臺(tái)階儀

厚度47nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品，三次重復(fù)測量結(jié)果疊加 (無任何減噪修正，原始數(shù)據(jù)輸出） 500um掃描， 2um探針

NanoMap-PS2是一款專門為nm級(jí)薄膜測量研發(fā)的無需防震臺(tái)即可測量的接觸式臺(tái)階儀

AFM同款位移傳感器，超高精度

壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描，**無內(nèi)源振動(dòng)

自集成主動(dòng)反饋式防震系統(tǒng)

真正無需額外輔助防震系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性納米測量

納米量級(jí)科學(xué)研究的必備產(chǎn)品

NanoMap-PS2 臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺(tái)階高度，粗糙度（Ra，Rq，Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動(dòng)探索樣品表面，自動(dòng)測量深受廣大客戶歡迎。

測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高，穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產(chǎn)品*低的。垂直分辨率可達(dá)0.1nm 。 可測表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料，金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等； AEP的技術(shù)日新月異。 欲了解**的產(chǎn)品性能參數(shù)，請與我們聯(lián)系。主要參數(shù) :

垂直分辨率 0.1nm

垂直**量程 1000um探針接觸力 0.03mg-100mg

平臺(tái)范圍 直徑150毫米（可選200毫米或更大）高清圖像 4級(jí)放大，彩色CCD成像光源 雙長壽命強(qiáng)光LED

金剛石探針 0.5um 到 25um 可選

臺(tái)階儀，膜厚儀，膜厚測量，半導(dǎo)體，薄膜，溝槽，MEMS，深度，太陽能薄膜，LED，OLED薄膜，接觸式臺(tái)階儀，高精度的臺(tái)階高度，半導(dǎo)體薄膜厚度測量，太陽能電池薄膜厚度，溝槽深度，線寬，便攜式，桌面型