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儀器簡介：

ESPI（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）電子散斑干涉技術(shù)是以激光散斑作為被測(cè)物場變化信息的載體，利用被測(cè)物體在受到激光照射后產(chǎn)生干涉散斑場的相關(guān)條紋來檢測(cè)雙光束波前后之間的相位變化。

電子散斑干涉技術(shù)（ESPI）是一種非接觸式全場實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù)，可完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測(cè)試，其具有通用性強(qiáng)、測(cè)量精度高、測(cè)量簡便等優(yōu)點(diǎn)。

Dantec Q-300 ESPI是丹迪公司研發(fā)生產(chǎn)的一款用于試件高靈敏度的三維位移、變形和應(yīng)變分析的光學(xué)儀器。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量維度：一維、二維、三維

測(cè)量區(qū)域：**可達(dá)200mm×300mm

測(cè)量精度：位移（0.03—0.1μm可調(diào)），應(yīng)變（0.005%—100%）

主要特點(diǎn)：

高速、精度高、無接觸、方便使用