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透射電鏡原位光電性質測試系統品牌
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PicoFemto透射電鏡原位光電性質測試系統（非定量力+電+光+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實現光電測量或者CL測量。
光纖指標
●光纖外徑250um，保證電鏡系統真空指標;
●可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；
●可選SMA接頭、FC接頭。
產品特色
●集成光學模塊，可應用于CL光譜、光電探測及電致發光光譜等研究；
●光電一體化解決方案，具有高拓展性；
●高穩定性，保證電鏡原有分辨率；
●很長的壽命：**技術（**種類：實用新型（具備高分辨多維操縱和電學測量的電子顯微鏡原位樣品桿） **號：202020944865 .4）的“爪-球”結構探針桿因其獨特的結構設計，是公認皮實耐用的探針桿；
●很低維護成本：設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。”爪-球“微動結構已實現模塊化量產，維護成本低；
●很大的用戶群：在國內擁有近200個高質量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學術平臺供用戶交流；
●成熟的技術支持網絡：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術支持網點，24小時提供技術支持。
應用領域
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近日，浙江大學張澤院士、王江偉研究員團隊作為第一單位在《Nat. Commun.》上發表了題為《In situ atomistic observation of disconnection-media
近日，蘇州科技大學作為第一單位，在《Inorg. Chem.》上發表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Gra
近日，澳大利亞昆士蘭理工大學作為第一單位，在《NanoLetters》上發表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dyna
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