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透射電鏡原位低溫電學測試系統品牌
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PicoFemto透射電鏡原位低溫電學測試系統（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成低溫環境控制單元，從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。
基本參數指標
●兼容指定型號透射電鏡及極靴；
●全溫區結構分辨率優于0.2nm；
●變溫范圍為85K-380K，溫度穩定性優于±0.1K
產品特色
●溫度連續可控，穩定性高；
●低溫下可實現對樣品施加應力及電學研究；
●穩定性高：輕松獲得大幅度運動中的高分辨像，適用于更廣泛的應用場景和樣品體系；
●很長的壽命：（種類：實用新型（具備高分辨多維操縱和電學測量的電子顯微鏡原位樣品桿） 的“爪-球”結構探針桿因其獨特的結構設計，是公認皮實耐用的探針桿；
●很低維護成本：設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。”爪-球“微動結構已實現模塊化量產，維護成本低；
●很大的用戶群：在國內擁有近200個高質量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學術平臺供用戶交流；
●成熟的技術支持網絡：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術支持網點，24小時提供技術支持。
應用領域
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近日，浙江大學張澤院士、王江偉研究員團隊作為第一單位在《Nat. Commun.》上發表了題為《In situ atomistic observation of disconnection-media
近日，蘇州科技大學作為第一單位，在《Inorg. Chem.》上發表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Gra
近日，澳大利亞昆士蘭理工大學作為第一單位，在《NanoLetters》上發表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dyna
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