DPLS4000是一款基于高速數(shù)字采集卡和快γ探測器的正電子湮沒壽命測量一體機(jī)設(shè)備。**在商業(yè)化正電子湮沒壽命譜儀中實(shí)現(xiàn)了免調(diào)試、自穩(wěn)定的功能。

通過測量正電子在材料中的湮沒壽命的長短，DPLS4000可以表征材料中的微觀結(jié)構(gòu)缺陷。正電子進(jìn)入材料后根據(jù)所處微電子環(huán)境的不同有著不同的壽命，材料中的缺陷孔洞越大，電子密度越小，相應(yīng)的正電子壽命也就越長。

技術(shù)指標(biāo)

1. 時(shí)間分辨率≤190ps（使用Na-22測量正電子湮沒壽命譜）；   

2. 時(shí)間分辨率≤155ps（使用Co-60測量符合時(shí)間譜）；

3. 具有一鍵設(shè)置功能，自動(dòng)設(shè)置所有測量參數(shù)，用戶無需調(diào)試直接使用；

4. 具有自動(dòng)校準(zhǔn)功能，在測量過程中始終保持參數(shù)的穩(wěn)定；

5.     能量分辨率≤3.5%@1.275MeV；

6. 時(shí)間采樣率≥5G/SPS；

7. 幅度分辨率≥14位；

8. 典型陽極脈沖上升時(shí)間≤0.8ns；

9. 典型渡越時(shí)間分散≤0.37ns；

10. 具有示波器功能；

11. 能窗自動(dòng)識(shí)別功能；

12. 閃爍體探測器溴化鑭晶體尺寸≥Φ25mm x L15mm；

13. 探測器集成分壓電路、磁屏蔽；

14. 典型計(jì)數(shù)率100-200cps；

15. 支持高計(jì)數(shù)率模式可達(dá)1000cps；

16. 采用Na-22放射源，活度≥20μCi。

產(chǎn)品特色

l 超高分辨：精選快γ探測器、高速數(shù)字采集卡，結(jié)合**信號(hào)處理算法，實(shí)現(xiàn)Co-60標(biāo)定時(shí)間分辨率小于155ps，1.275MeV處能量分辨率小于3.5%，各項(xiàng)參數(shù)均達(dá)到行業(yè)**水平。

l 一機(jī)集成：DPLS4000使用模塊化設(shè)計(jì)，將所有設(shè)備集成在機(jī)箱中，設(shè)備占地面積小，安裝移動(dòng)快捷，可以在各種場景中使用。

l 一鍵測量：利用AI算法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)設(shè)置，省去繁復(fù)的調(diào)試過程，消除使用門檻，真正讓用戶開機(jī)即用、一鍵測量。