探測器：
背散射電子探測器加速電壓：
5kV，10kV，15kV電子槍：
六硼化鈰電子光學放大：
160-200000x光學放大：
3-16x分辨率：
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Phenom Ar-C 手套箱版掃描電鏡
+ 
在手套箱內進行空氣敏感材料的制備和分析
Phenom Argon-Compatible Desktop SEM（以下簡稱：Phenom Ar-C）是**一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運行的掃描電 鏡，可以在手套箱內進行更安全的樣品制備、顯微觀察和能譜分析。無需將樣品從一臺儀器轉移到另一臺儀器，實現了直接對空氣敏感 樣品的研究，節省了時間和資源。
傳統方法與 Phenom 手套箱版臺式掃描電鏡對比
Phenom Ar-C，標配四分割背散射電子檢測器（BSD），可獲取清晰的圖像并 提供成分襯度。可以選配二次電子探測器（SED）， 完全集成的能譜（EDS）系 統進行元素分析。兼容 ProSuite 拓展軟件，如 ParticleMetric 顆粒統計分析系 統、PoroMetric 孔徑統計分析測量系統、FiberMetric 纖維統計分析測量系統和 3D 粗糙度重建系統，來協助進一步分析樣品。
放置于氬氣手套箱中的 Phenom Ar-C
2 μm
電池陰極顆粒的 SEM 圖像
成像模式 | |
光學顯微鏡 放大倍數：3 – 16x | |
電子顯微鏡 | 放大倍數：160 –200,000x |
照明 | |
光學 | 明場和暗場模式 |
電子光學 | • 長壽命 CeB6 燈絲 • 束斑尺寸連續可調 |
加速電壓 | 基本模式：5kV, 10kV 和 15kV 高級模式：4.8kV - 15kV 連 續可調，用于成像和元素分析 |
樣品真空 | 低 - 中 - 高 |
分辨率 | 優于 8 nm |
探測器 | |
標配 | 背散射電子探測器 |
選配 | 二次電子探測器 能譜探測器 |
圖像檢測 | |
光學 | 高分辨率彩色導航相機 |
電子光學 | 高靈敏度四分割背散射電子探測 器（具有成分模式和形貌模式） |
圖像格式 | |
JPEG, TIFF, BMP | |
圖像分辨率選項 | |
960x600, 1920x1200, 3840x2400, 和 7680x4800 像素 | |
數據存儲 | |
USB 閃存, 網絡, 工作站 | |
• 網口 | |
• 電源口 • USB 接口 | |
尺寸和重量 主機 | 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg | |
隔膜泵 | 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4.5 kg | |
電源 | 156(w) x 300(d) x 74(h) mm, 3 kg | |
顯示器 (24 英寸) | 531.5 (w) x 250 (d) x 515.4 (h) mm, 6.7 kg | |
工作站 | • SSD 存儲和 4 個 USB 插槽 • 92.5 (w) x 305.6 (d) x 343.5 (h)mm, 8 kg | |
樣品尺寸 | ||
• ** 100mm (w) x 100mm (d) x 40mm (h) 樣品掃描區域 • 50mm x 50mm • 100mm x 100mm（可選） | ||
樣品加載時間 | ||
光學 | <5 s | |
電子光學 安裝要求 | <60 s | |
環境條件 | ||
溫度 | 15 –25°C (59–77°F) | |
H2O / O2 比例要求 | < 0.5 PPM | |
電源 | 單相交流 100–240 V， 50/60 Hz, 平均 163 W， ** 348 W | |
物理參數 | ||
• 建議桌臺規格為 150 x 75 cm, 承重至少 150 kg • 隔膜泵必須安裝在無明顯振動處 | ||
可輸出用戶選定的獨立元素 背散射電子圖像
元素 / SEM 混合圖像
掃描區域 任何尺寸的矩形
面掃描像素數 | 32x20–960x600 像素 |
像素停留時間 | 1 –500 ms |
線掃描 | |
線掃描像素數 16 –512 像素 | |
線掃描停留時間 10 –500 ms
Docx 格式
對地質樣品進行 EDS Mapping 分析
自動化
Phenom Ar-C 可通過 PPI（Phenom 編程接口）進行標準訪 問，這是一種通過 Python 腳本來運行 Phenom Ar-C 的方法。 可以協助用戶自動化分析顆粒、孔隙、纖維或大尺寸 SEM 圖像 的重復性任務。如果需要，可以根據您的具體使用需求提供相應 的技術支持。
CeB6 長壽命燈絲
CeB6（六硼化鈰）長壽命燈絲具有以下幾個優點。首先，與鎢燈 絲相比，提供的高亮度使用戶更易于獲得具有更多細節的高質量 圖像。第二，燈絲的使用壽命很長，無需頻繁拆開手套箱進行更 換，加上定期的維護保養，這可以為用戶帶來長周期的穩定體
驗。第三，通過 Phenom 智能軟件可盡可能地延長使用壽命， 當 Phenom Ar-C 未使用時，燈絲進入休眠狀態。
優中心樣品臺
在許多的 SEM 應用中，如果樣品可以傾斜和旋轉，有助于更深 入地了解樣品特性。優中心樣品臺就是考慮到這一點而專門開發 的，該樣品臺可以輕松安全地從各個角度觀察樣品。
高度集成 ProSuite 軟件
操作界面集成化 自動識別譜峰
迭代反卷積算法 置信度指標可視化
導出功能：CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA
可 4 個方向移動：Z (高度)、R (旋轉)、T (傾斜) 和 x' (x-prime)
**樣品尺寸 | |
90° 傾斜放置 | Ø ≤30 mm; 高度 ≤32 mm |
< 45° 傾斜放置 | Ø ≤70 mm; 高度 ≤32 mm |
傾斜角度 | |
-15° 和 +90°之間 | |
旋轉角度 | |
360° 連續 | |
一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運行的掃描電 鏡，可以在手套箱內進行更安全的樣品制備、顯微觀察和能譜分析。無需將樣品從一臺儀器轉移到另一臺儀器，實現了直接對空氣敏感 樣品的研究，節省了時間和資源。
2020-12-09
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2020-12-21
2020-12-21
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