分辨率：
·重現性：
·儀器原理：
圖像分析分散方式：
·測量時間：
·測量范圍：
直徑≤100mm,厚度≤20mm看了全自動型原子力顯微鏡的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
參考報價：
面議 | 型號： | AFM5500M | |
| 品牌： | 日立 | 產地： | 日本 |
| 樣本： | 【暫無】 | 信息完整度： |   |
| 典型用戶： | 0 |
| 儀器種類： | 原子力顯微鏡 | 樣品臺移動范圍： | 100mm*100mm |
| 樣品尺寸： | 直徑≤100mm,厚度≤20mm | 定位檢測噪聲： | ≤ 0.04 nm (High-resolution mode) |
| 價格區間： | 產地類別： | 進口儀器 |
1. 自動化功能
高度集成自動化功能追求高效率檢測
降低檢測中的人為操作誤差
2. 可靠性
排除機械原因造成的誤差
大范圍水平掃描
采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對掃描器圓弧運動所產生的曲面，通常通過軟件校正方式獲得平面數據。但是，用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運動的影響，圖片上經常發生扭曲效果。
AFM5500M搭載了**研發的水平掃描器，可實現不受圓弧運動影響的準確測試。
高精角度測量
普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時候，會發生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器，在豎直方向上不會發生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。
3. 融合性
親密融合其他檢測分析方式
通過SEM－AFM的共享坐標樣品臺，可實現在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌，結構，成分，物理特性等。
通過分析AFM圖像可以判斷，SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。
石墨烯層數不同導致表面電位（功函數）的反差。
SEM圖像對比度不同，可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。
與其他顯微鏡以及分析儀器聯用正在不斷開發中。
高度集成自動化功能追求高效率檢測
降低檢測中的人為操作誤差
排除機械原因造成的誤差
親密融合其他檢測分析方式
全自動型原子力顯微鏡的工作原理介紹？全自動型原子力顯微鏡的使用方法？全自動型原子力顯微鏡多少錢一臺？全自動型原子力顯微鏡使用的注意事項全自動型原子力顯微鏡的說明書有嗎？全自動型原子力顯微鏡的操作規程有嗎？全自動型原子力顯微鏡的報價含票含運費嗎？全自動型原子力顯微鏡有現貨嗎？全自動型原子力顯微鏡包安裝嗎？
手機版：
工商已核實
