推薦美新技術對單個納米粒子質量高精度測量

中國粉體網2月8日訊 據物理學家組織網日前報道，美國麻省理工學院的研究人員開發出一種技術，能夠對單個納米粒子的質量進行高精度測量，分辨率比上一代設備提高了30倍，精度可達0.85阿克（即attograms，1阿克等于10的[更多]