中國粉體網訊 近日,浙江大學杭州國際科創中心(簡稱科創中心)先進半導體研究院-杭州乾晶半導體聯合實驗室(簡稱聯合實驗室)經過系列技術攻關,在大尺寸碳化硅(SiC)單晶生長及其襯底制備方面取得突破,成功生長出厚度達27毫米的8[更多]
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