2008年12月16日，北京粉體技術協會和英國馬爾文儀器有限公司聯合舉辦的“納米顆粒表征及應用技術研討會”在北科大廈報告廳順利召開。出席本次會議的有科研院所、高等院校以及相關企業的70多位相關人員，會議內容涉及納米顆粒粒度分布測量、Zeta電位測量、納米樣品分散等技術原理與應用及納米技術相關標準現狀的介紹。





       “納米顆粒表征及應用技術研討會”會議現場

    會議伊始，國內粉體行業知名專家、北京粉體技術協會理事長胡榮澤教授作了“超微粉粒度分布測量”學術報告：主要介紹了已有的超微粉粒度分布測量方法、分散方法、不同儀器測試結果不同的原因以及粒度儀的選擇要點。



        胡榮澤教授：“超微粉粒度分布測量”學術報告

    北京市理化分析測試中心物理室主任、北京粉體技術協會副理事長兼秘書長周素紅在“納米技術相關標準現狀”報告中，介紹了標準的分類、與納米相關的國際標準化組織及國內納米材料標準化現狀及進展。



        周素紅高工：“納米技術相關標準現狀”

    以“納米測量技術最新進展”、“納米樣品分散技術及應用”為主題，馬爾文公司專業技術人員的報告內容豐富——涵蓋納米檢測技術概述、動態光散射原理和最新進展、靜態光散射和分子量的測定、多普勒電泳光散射和Zeta電位測定、顆粒間相互作用和高濃度樣品測定等。



       馬爾文儀器(中國)公司總經理秦和義先生解答用戶問題

    在報告中，馬爾文公司提到其最新推出的納米粒度儀Zetasizer APS和Zetasizer μV。這兩款新品指向生物領域應用，為蛋白質表征而設計。Zetasizer APS可對行業標準96或384孔載樣板中的樣品進行自動化動態光散射測量；Zetasizer μV則是對馬爾文已有Zetasizer系列產品在應對高靈敏度和小容量測試需求上的補充。

　　本次大會是北京粉體技術協會今年以來在顆粒表征技術方面參與主辦的第一場學術性質的會議，協會明年將主辦更多介紹該領域技術及相關進展的類似會議。