中國粉體網訊  CPS納米粒度分析儀是一臺穩(wěn)定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測量0.005um到75um范圍的粒度。樣品被注人到高速旋轉的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉淀并通過檢測頭被檢測并拾取。因為大小不同的顆粒到達檢測頭的時間不同，因此通過記錄顆粒到達檢測頭的時間，就可以知道顆粒的大小。有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理可為顆粒的精細區(qū)分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。

CPS納米粒度分析儀  圖源：儒亞科技

納米粒度儀具有自動測試、自動對中、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等特殊功能。智能化不僅簡化了操作,也減少了人為因素對測試結果的影響,使它的量程、重復性、準確性和分辨力等主要指標都達到了標準規(guī)定的水平。該儀器特別適合中小粉體生產與應用企業(yè),以及高校和研究院所的中小實驗室作為粉體質量控制、生產工藝控制、粉體應用研究、新粉體材料研究可靠的粒度監(jiān)測手段。

CPS高精度納米粒度儀在碳納米材料中的應用

低維納米顆粒型材料由于獨特的性質，得到了社會的廣泛關注。而納米顆粒的粒度大小、分布、在介質中的分散性能以及二次粒子的聚集形態(tài)對納米顆粒型材料的性能具有重要的影響，因此粒度表征是納米顆粒型材料研究的一個重要方面。而在粒徑檢測中，CPS納米粒度儀分析儀根據(jù)獨特的Stokes定律檢測顆粒粒徑分布的間接測量法，在炭黑、白炭黑、碳納米管領域中具有分辨率高、對于粒徑分布較寬的樣本也能較好測試的特點。

例如對于炭黑的粒徑檢測，常用的炭黑添加劑粒徑為納米級別，裂解后的炭黑粒徑不一，大部分處于30um左右，最小粒徑為3um，最大為74.14um。需要對其粒徑的分布進行測試。而目前對炭黑的粒徑測量方法為差速沉淀法。由于常用的炭黑粒徑比較均勻，在測試時粒徑的分布常呈現(xiàn)正態(tài)曲線分布，但在裂解后炭黑中混有橡膠纖維，導致粒徑變大，不同粒徑炭黑的含量不同，不再呈現(xiàn)均勻的正態(tài)分布。造成樣品的測試比較困難。

美國CPS24000納米粒度分析儀可以真實反映樣品在溶液中的真實粒徑分布狀態(tài)，粒徑測試結果的精確度僅次于掃描電鏡。主要特點如下：

CPS24000納米粒度分析儀  圖源：儒亞科技

1、所需樣品量少。每次只需要0.1ml，這在疫苗研發(fā)、化學合成方面具有極大的優(yōu)勢。

2、一次測試樣品量高。在前處理準備工作做完以后，可結合標準顆粒一批次測試40多個樣品。

3、分辨率高。同激光散射和顆粒計數(shù)等方法比較，對于樣品中即使只有1%峰值差異的顆粒，依舊可以很好地區(qū)分測量出來，即可以得到真實的粒度分布結果。

該方法看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。

4、靈敏度高。低至10^-8g 的樣品就可以滿足日常分析需要。

5、分析時間短。和傳統(tǒng)沉降法比較，由于采用更快的圓盤轉速和高速檢測器，因此極大縮短了分析所需時間。對于粒徑分布范圍很寬的樣品，通過可選的速度調節(jié)功能圓盤，僅需常規(guī)圓盤分析時間的1/20。

6、快速、高精度數(shù)模(A/D)轉換：可用信號分辨率（即軟件操作的對象）決定于數(shù)模轉換的過程。CPS系統(tǒng)使用的數(shù)模轉換可以實現(xiàn)在每秒31次取樣時保持20位以上的精度，幾百萬分之一的誤差。

2024年10月29日在上海跨國采購會展中心，由北京粉體技術協(xié)會與柏德英思展覽(上海)有限公司聯(lián)合主辦2024第三屆低維碳納米材料制備及應用技術交流會。屆時來自儒亞科技（北京）有限公司的黨金貴產品總監(jiān)將作題為《CPS納米粒度儀在碳納米材料中的應用》的報告。

專家簡介：

黨金貴，江南大學碩士，儒亞科技（北京）有限公司技術總監(jiān)。發(fā)表中文核心期刊一篇，CSCD期刊一篇。專業(yè)從事各類粉體粒度表征多年，解決了龍頭企業(yè)如歐勵隆Orion、卡博特、固特異、風神輪胎在碳納米管、炭黑和白炭黑領域納米粒徑測試中各種棘手問題，在碳納米材料領域具有獨到的見解。

參考來源：

儒亞科技官網，儒亞科技公眾號

熊向軍，納米顆粒粒度分析的新進展——CPS高速離心式納米粒度分析儀

（中國粉體網編輯整理/留白）