
北京精微高博儀器有限公司

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10月19日,第52屆中國高等教育博覽會在四川省成都市成都世紀城新國際會展中心拉開序幕。
中國高等教育博覽會由教育部主管、中國高等教育學會主辦,其前身為1992年秋在南京舉辦的“全國高教儀器設備展示會”。目前已有26年的發展歷史,是目前我國高等教育領域唯一的規模最大、舉辦時間最長、影響力最廣的,集教學儀器設備與實踐教學高端論壇于一體的綜合性展會。本屆高博會展出面積高達50000余平米,布設了信息化&智慧教育類、實驗室&科研儀器設備與技術類、實訓&機電類等多個展區。
北京精微高博科學技術有限公司作為中國氮吸附儀的開拓者,受邀參加了本次高等教育盛會。和現場來賓一同交流、探討高校實驗室及科研儀器設備的前沿技術與趨勢。
JW-DX型動態吸附比表面測定儀
比表面積是表征微納米粉體材料表面物性重要指標之一,最常用的測定方法是氮吸附法。動態氮吸附法測定比表面積.廣泛應用于工業中生產線上產品的快速檢測。精微高博公司發明專利儀器JW-DX型動態吸附比表面測定儀,測試準確、高效,非常適合三元材料、石墨等電池正負極材料、醫藥輔料等小比表面樣品的測試。
JW-BK200C高性能物理吸附儀
JW-BK200系列高性能物理吸附儀即能準確可靠解決粉體材料比表面積及孔徑分析問題,該系列產品根據測試功能不同區分為A、B、C三種型號,其中高端C型研究級設備因雙站均配置有超低壓1torr或0.1torr壓力傳感器,及10-8Pa超低真空度渦輪分子泵,可有效解決分子篩、催化劑、活性炭等多微孔樣品的高效率超微孔分析。
北京精微高博科學技術有限公司是國家高新技術企業,成立于2004年,專業從事氮吸附比表面及孔徑分析儀的研發、生產及銷售。精微高博是中國新一代動態BET 比表面儀、單氣路常壓動態孔徑分析儀、靜態容量法比表面及孔徑分析儀、高精度靜態微孔分析儀等儀器的原創廠家,具有多項自主知識產權和國家專利,產品性能具有國際先進水平,參與國家標準GB/T19587-2017《氣體吸附BET法測定固態物質比表面積》的制定。
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