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隨著現代混凝土技術的發展，用戶對水泥的性能要求不斷提高，水泥顆粒粒徑分布及顆粒形貌對水泥性能的影響逐漸受到水泥生產企業的重視。天津水泥工業設計研究院有限公司新采購了一臺RETSCH TECHNOLOGY（萊馳科技）的多功能粒徑及粒形分析儀CAMSIZER X2，近日萊馳科技粒度儀產品經理王瑞青先生攜技術工程師袁石峰先生前往用戶單位進行安裝調試，并與中材國際研究總院的范總共同探討動態圖像法對水泥顆粒粒度大小、形貌的表征以及具體研究方法。

天津水泥工業設計研究院簡介

天津水泥工業設計研究院有限公司(英文縮寫 TCDRI )，簡介：天津水泥工業設計研究院有限公司成立于1953年，是中國最早建立的主要大型國家骨干工業設計院之一——中國建材行業中實力最雄厚的甲級設計院。2000年改制成為中央直屬科技型企業，2005年根據國務院國資委的要求，與中國材料工業科工集團進行戰略性重組，整體并入中國材料工業科工集團。 2007 年 1 月 1 日，經中國材料工業科工集團公司批準，重組改制為天津水泥工業設計研究院有限公司并正式對外營業。

隨著人們對水泥顆粒粒徑分布對水泥性能影響認識的提高，從調節和控制水泥的顆粒粒徑分布入手，解決水泥的工作性不好所產生的問題，逐漸成為水泥生產中的重要一環。水泥的性能與水泥顆粒的粒徑分布有很大關系，在比表面積相同的條件下，水泥顆粒的粒徑分布越窄，水泥的需水量越大，與外加劑的適應性越差，水泥顆粒的粒徑分布越寬，水泥的需水量就越小，與外加劑的適應性也會變好。目前，我國水泥企業生產的水泥需水量普遍較高，水泥的工作性不好成為影響水泥質量的主要方面，如何對水泥粉末的顆粒粒徑分布進行調節和控制，使其適當變寬，從而降低水泥的需水量，是水泥生產企業非常關心的問題。

天津水泥工業設計研究院有限公司作為中國水泥工業科技發展和技術進步的引領者，不斷推動著中國水泥工業的技術研發與產品質量的穩步提高。首先，萊馳科技的產品經理王瑞青先生對范總表示了衷心感謝，感謝范總一直以來對萊馳科技品牌和產品的信賴，范總同時也很感謝萊馳科技長期以來熱情周到的服務。他講到，之所以選擇萊馳科技的產品主要是因為多功能粒徑及粒形分析儀CAMSIZER X2在水泥的顆粒形貌檢測方面技術遙遙領先，同時也完美契合集團現在的儀器需求。

范總表示，萊馳科技的產品在國際上一些知名企業均有應用，比如拉法基，海德堡。過去水泥行業注重顆粒大小的檢測，隨著國家高質量發展的戰略的實施，天津水泥工業設計研究院有限公司在水泥的高性能發展這塊有很大的發展創新，這就需要公司對顆粒的形貌、顆粒的級配方面有一個準確的把控，天津水泥工業設計研究院有限公司是研究水泥及水泥制品的企業，對水泥顆粒形貌和粒徑分布的了解與掌握對水泥產品的質量控制是至關重要的，也對水泥產品的推廣提供了契機。隨著水泥行業對水泥高性能的需求，范總相信萊馳科技這一專業粒度儀品牌將會在水泥行業取得更好的發展空間。同時范總也希望能與萊馳科技攜手共進，創造一個共贏的市場。

作為代表中國水泥行業裝備開發和技術水平的領頭羊，天津水泥工業設計研究院有限公司推動了中國水泥工業裝備開發與制造能力的不斷增強。萊馳科技愿與天津水泥工業設計研究院有限公司一起為中國水泥工業的發展做出貢獻，也祝愿天津水泥工業設計研究院有限公司在未來創造更加輝煌的業績。

天津水泥工業設計研究院有限公司新采購的Retsch Technology（萊馳科技）的多功能粒徑及粒形分析儀CAMSIZER X2，主要應用是檢測和分析水泥的粒度分析和顆粒形貌。因此，我們推薦客戶使用CAMSIZER X2配備一個X-Dry干法模塊，同時配備自由落體和壓縮空氣兩種分散模塊來分散樣品。對于水泥這種傳統樣品，采用空氣壓縮機來提供壓縮空氣，通過壓縮空氣將水泥樣品吹散，之后對分散的樣品進行測量，測量完畢的樣品被進口的吸塵器采集收走。這是一套完整的系統，測量完畢的數據通過電腦軟件直接統計分析，最終得到我們的結果。另外，我們還配備了儀器專用的光刻板，用來校正儀器，在后續使用過程中可以直接進行無損校正。

Camsizer X2是在Camsizer獲得巨大成功后推出的新一款粒度及粒形分析儀，采用了更高分辨率的光學系統，提供更多的分析模塊可選。粉體顆粒的尺寸越小越容易發生團聚現象，以往的粒度分析技術由于解決不了分散問題而得不到準確且具有重現性的分析結果，而Camsizer X2可選的X-Fall、X-Jet和X-Flow三種模塊可讓您根據不同的應用和要求進行樣品分散。由于Camsizer X2具有足夠的進樣量，檢測過程也不受其他因素（如折射率）影響，因此Camsizer X2能夠準確測量到粉體的整體形態信息，比如球形度、對稱性等。

CAMSIZER? X2

粒度及粒形分析技術的新里程碑

Δ 測量范圍0.6μm-8mm，依據ISO13322-2動態圖像分析技術標準

Δ X-Fal l（自動振動進樣）、X-Jet（壓縮空氣分散進樣）、X-Flow（濕法分散進樣）三種可選分析測量模塊，互相切換簡單快速

Δ 專利的雙CCD圖像分析技術，在寬量程范圍內，無需硬件調整，即可完成測量

Δ 可對顆粒形態進行測量與分析，如縱橫比、球形度、對稱性、破碎度等

Δ 對于易團聚的粉體顆粒測試重復性佳

Δ 可與篩分結果進行擬對