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貝克曼庫爾特商貿（中國）有限公司
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本次講座由貝克曼庫爾特公司美國總部資深技術專家、顆粒分析儀器屆知名人士許人良博士主講。在近4個半小時的時間里，許博士作精彩的演講。講座中他分別介紹了納米粒度測量的最新國際標準與相應的測量新技術、貝克曼庫爾特公司獨有的美國專利---透明電極測量高濃度ZETA電位技術、創新的固體表面ZETA電位測量技術、粉體干法測量的先進技術----“龍卷風”激光粒度儀，以及全球著名的Multisizer系列最新的庫爾特計數儀。
在技術問答環節，由于聽眾提問踴躍，時間遠遠超出設定時間，使得“技術問答”環節一直延續到晚飯的飯桌之上........
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