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        應(yīng)中山大學(xué)惠州研究院的邀請，麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司應(yīng)用部經(jīng)理鐘華博士將于6月19號在大亞灣科技創(chuàng)新園做題為“比表面分析儀在顆粒表征中的應(yīng)用”的技術(shù)講座。

        據(jù)主辦方介紹，惠州研究院會定期為周邊企業(yè)舉辦技術(shù)講座，主要涉及現(xiàn)代儀器在生產(chǎn)中的應(yīng)用，主要邀請儀器行業(yè)的知名廠家技術(shù)人員為廣大企業(yè)員工普及知識。考慮美國麥克儀器公司在顆粒表征行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)地位，特邀請我們公司應(yīng)用部經(jīng)理來做這個關(guān)于顆粒表征的專題講座，希望通過這個講座讓行業(yè)內(nèi)用戶更近距離了解我們的先進(jìn)技術(shù)，為企業(yè)發(fā)展做出更大貢獻(xiàn)。

講座的具體安排如下：

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