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飛納電鏡持續創新

系列一

01

“你這個位置是哪里拍的？其他位置什么情況？整個樣品上裂紋的走勢是什么樣的？”

作為失效工程師，收到老板或同事的靈魂拷問，是不是常常讓你頭疼？

02

“你這個太局部了，不具有代表性，其他位置什么情況？”

明明是供應商產品的問題，但強勢的甲方的詭辯總讓你無奈不已？

03

“小張，我要整個組織切片的全貌，請確保拍下來。”

導師的要求太天真，臣妾做不到？

別擔心，飛納電鏡 MAPS 系統幫你解決這些問題！

2024 年，飛納發布革命性的數據采集及閱讀系統 Phenom MAPS。該系統不僅徹底革新了數據存儲的方式，還為 SEM 表征與數據分析開啟了“上帝視角”，幫您輕松掌握每一個細節，不再需要費力解釋。

今天，我們來詳細了解一下這款為科學家們提供“上帝視角”的飛納電鏡 MAPS 系統。

No.1 ：多圖層數據采集及閱讀系統

PHENOM MAPS

“人如其名”，MAPS 是地圖的意思，該系統會像百度地圖一樣，通過層級的方式，實現對樣品的拍攝與數據回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數碼存檔，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，徹底變革了傳統掃描電鏡的分析與數據存儲模式。并且，多圖層數據可以包含能譜。

No.2 ：大面積成像拼接，完全無痕！

PHENOM MAPS

導師再讓我拼全圖，我會大聲回答：我“朕”的可以！

No.3：大面積能譜分析，地質行業最愛！

PHENOM MAPS

這里是一個地質樣品的能譜拼圖結果，Phenom MAPS 可以實現對整個樣品的能譜采集，導出任意拼接的原始能譜數據，以方便進行離線分析。

有相關需求的客戶，可以識別下方二維碼留言聯系我們：

No.4 ：CISA，關聯一切可視化圖片

PHENOM MAPS

光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關聯。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

通過結合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學信息與顯微鏡提供的高分辨率結構信息融合。CISA 關聯工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

總結

飛納電鏡 MAPS 系統不僅是一個自動化的圖像、能譜采集工具，更是一個革命性的數碼存檔和關聯數據分析平臺。通過地圖化的多層級掃描電鏡和能譜數據采集及關聯系統，為您提供多模態的“上帝視角”，全面掌握顯微鏡數據，不再錯過任何細節。