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TE致冷CCD光譜儀
Glacier™ X是高性能的TE致冷線陣CCD光譜儀。與非致冷的CCD光譜儀相比，Glacier™ X可以提供更高的動態范圍，更顯著的降低光譜儀的噪聲，更優異的長期穩定性，更適合微光檢測和長時間連續監測等應用。它的低檢測波長可達200nm，高可達1050nm。根據不同的配置，光譜分辨率0.6-4.0nm可選。靈活的配置及完備的應用支持，使其成為眾多的微光檢測、長時間光譜檢測應用需求的理想選擇。
Glacier™ X采用2048像元檢測器，內建16位數字轉換，高速USB2.0即插即用數據接口。
B&W Tek提供靈活的配置以滿足不同的光譜分析應用需求OEM客戶的特殊要求。
產品特點：
紫外-近紅外波段
0.6nm - 4.0nm 光譜分辨率
TE致冷/控溫
16位數字轉換
500 kHz 讀出速度
即插即用USB 2.0數據傳輸
提供OEM版本
應用：
紫外可見近紅外 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應用
長積分檢測
吸光度測量
反射率測量
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