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透射電鏡原位電學性能測試系統

• 一桿多用：僅僅通過更換芯片，即可實現原位加熱、原位電學、原位液體和原位氣體研究，極為有效的幫助科研人員提高科研水平，極大的拓展透射電鏡TEM應用范圍。

• 由優秀科學家精心研發制造，性能優越，質量可靠。

透射電子顯微鏡是**的提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗 手段。透射電子顯微鏡原位電學性能測試系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝 掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操控和電學測量。并可在電學測量 的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，極 大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。 本系統包括包括兩部分，分別是掃描探針控制器（內含電流前置放大器）與原位測量樣品桿部分。

透射電鏡原位光電性質測試系統

本系統是在透射電鏡標準樣品桿內加裝掃描探針控制單元，可在三維空間內對電學探針與光纖探針進行亞納米級精度的操縱與定位。通過電學探針施加電場，通過光纖施加光場，對單個納米結構進行操控并進行電學性質、光學性質的測量。并可在物性測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，極大地擴展了透射電鏡的功能與應用領域。

透射電鏡原位力學-電學性能測試系統

透射電子顯微鏡原位力學-電學性能測試系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內 加裝掃描探針控制單元和納牛頓力傳感器，通過探針對單個納米結構進行操控和拉應 力、壓應力、電學測量。并可在力學、電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶 體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與 應用領域。 本系統包括包括兩部分，分別是掃描探針控制器與原位測量樣品桿部分。

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