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產品特色:
1.各大廠認可針對塑料及電子元件中有害重金屬檢測之X射線螢光分析儀
2.採用高靈敏度矽半導體偵測，無須液態氮
3.配備CCD監視器
4.具備形狀、厚度、材質補正弁?Seiko專利)
5.超低檢測下限的(Cd：1.9ppm；Pb：0.9ppm)
應用領域
(1)滿足歐盟RoHS指令，以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
(2)針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準，利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法，滿足廠商簡易的需求。
基本規格
| 測定元素 | 原子編號13 (Al) ~ 92 (U) |
| 樣品形態 | 固體，粉末，液體 |
| X光管 | 小型空冷式X射線管球(Rh靶) |
| 管電壓：15kV， 50kV 管電流：1mA | |
| 檢測器 | Si半導體檢測器(無需液態氮) |
| 準直器 | 1mm， 5mm(自動切換) |
| 樣品觀察 | 彩色CCD攝像頭 |
| 濾波器 | 4種模式自動切換 |
| 樣品室 | 370(W)*320(D)*155(H)mm |
| X-ray Station | 筆記電腦或桌上型電腦 |
| (OS; MS-windows XP) | |
| 印表機(選購) | 噴墨印表機 |
| 定性分析弁?/div> | 能譜測定 |
| 自動辨別，圖譜比對 | |
| 定量分析弁?/div> | 塊體FP法，標準曲線法 |
| KLM標示表示，差異表示 | |
| 統計處理弁?/div> | MS-EXCEL |
| 報告製作 | MS-WORD |
| 設置尺寸 | 900(W)*700(D)*460(H)mm(不含印表機) |
| 重量 | 90kg |
| 使用電源 | AC100~ 120V， 200 ~ 240V±10%， 10A |
| 選購 | 有害物質判定軟體 |
| 能譜匹配軟體(材料判定) | |
| 薄膜FP軟體 | |
| 薄膜標準曲線軟體 | |
| 外部驅動X-Y移動臺 | |
| 自動進樣器 |
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