看了KLA納米壓痕原位力學測試模塊NanoFlip的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
KLA NanoFlip原位納米壓痕力學測試模塊
NanoFlip納米壓痕儀可以提供您的材料研究實驗室帶來無限的便捷。高性能多功能性是NanoFlip設計的標志,當需要進行成像集成,需要進行頻繁的轉換和廣泛的樣本控制時,無論是環境測量還是原位測試,無論有無真空,都能提供同樣出色的結果。
Fib2Test技術允許用戶將樣品傾斜90度,以便在雙光束SEM內從FIB無縫過渡到壓痕測試,而無需移除樣品。
設計為完全真空兼容,并且具有獨特的樣品觸發功能,NanoFlip非常適用于現場環境,如SEM,FIB和真空室,或者當您的實驗帶您遷移時,可以在任何情況下工作可以想象的成像系統,如AFM,光學顯微鏡和光學Pro測量儀,為您提供幾乎無限的成像選項。
電磁執行器用于KLA生產的所有系統,包括NanoFlip。這些執行器是堅固的線性裝置,固有地解耦力和位移。它們的**力為50 mN,分辨率為3 nN,超低噪聲電流小于200 nN。
NanoFlip的時間常數為20微秒,是**同時符合規格的商用納米壓痕儀,**壓痕行程為50μm,噪聲<0.1nm,數字分辨率為0.004 nm,漂移率為< 0.05nm/s。
為了確保業內*廣泛,*可靠的數據,NanoFlip能夠實現0.1 Hz至1 kHz的動態激勵頻率。
樣品臺移動,Z軸為25 mm,X為20 mm,Y軸為20 mm,分辨率為nm,可在大面積上精確定位樣品。
載荷框架剛度> 7 e5N/m
獨特的尖端校準系統集成到軟件中,可實現快速,準確和自動的尖端校準。
可用的方法包,包含聚合物,薄膜和生物材料的提示,方法和標準
可用刮擦選項,**正常載荷為50 mN,**刮擦距離為2.5 mm,**刮擦速度為500μm/ s。
可選的NanoBlitz地形和層析成像軟件,用于材料的3D和4D映射。
暫無數據!