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原子電子結構分析儀，利用常規X光源實現X射線吸收精細結構(XAFS)的光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用，適用于多種樣品形態、可實現原位檢測，
● 吸收譜快掃功能
● 吸收譜/發射譜實時顯示
● 多組樣品自動切換
● 無人值守自動測試
● 寬能譜X射線探測系統
● 配置X射線發射譜模塊，軟件控制自動切換
● 電化學、高溫氣固和二次電池等多種原位實驗系統
● 可根據用戶實驗需求定制彎晶
● 高分辨羅蘭環結構X射線單色器，能量范圍大
● 雙能X射線光源，軟件控制自動切換
● 大口徑球面彎晶單色器，實現工作能量范圍內各個元素的**分辨
● 全面的原位功能，豐富的輔助制樣系統，多種聯用功能
● 預校準晶體支架，更換晶體即插即用，無需重新準直和信號掃描
● 測試方法和數據分析的技術支持
● 儀器售后服務反饋時間小于24小時
● 安全防護連鎖，具備自屏蔽功能，周圍環境劑量符合輻射安全要求，防止誤操作導致人員輻射傷害
● 可選紫外光譜聯用實驗系統、磁控濺射樣品制備裝置、大電流化學工作站、液質分離制備系統
| 型號 | LabXAFS Advance |
| 能量分辨率 | 0.5~1.5eV（@7~9keV） |
| 能量范圍 | 4.5~25keV |
| 高精度羅蘭圓式能譜掃描系統，可覆蓋布拉格角范圍 | 85o~55o |
| 單次掃描范圍 | ＞600eV(7~9keV) |
| 能量重復性 | ＜30meV |
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