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半導體晶片倒角測量儀
半導體晶片倒角測量儀

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型號

半導體晶片倒角測量儀

品牌

上海翱晶

產地

上海

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上海翱晶半導體科技有限公司

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產品特點:可在1臺設備上實現對晶片邊緣圓周部分、定位邊和notch的形狀以及尺寸等的測量

①    非接觸式測量

②    可對應晶片直徑:φ2”~φ12”

③    可對應晶片厚度:200μm~1,500μm(需更換鏡頭)

④    130萬像素CCD黑白攝像頭

⑤    直徑測量(可選功能)


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