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Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀**結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是目前市場上功能***的一款儀器。

作為*先將背向光散射技術（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應用全新的光纖技術將背向光散射技術與傳統動態光散射技術進行了**結合，突破性地推出了結合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，實現在同一臺粒度分析儀中，既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，zui高可達40 %wt；硬件PALS技術（與傳統基于頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應用，徹底解決了長期以來無法對諸如在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統方法沒有足夠的分辨率進行測量）的樣品進行分析的難題。Omni是目前市場上功能zui強大的粒度與Zeta電位分析儀。

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀典型應用

1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

2.脂質體、外切酶體及其他生物膠體

3.多糖、藥物制備

4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

5.油包水、水包油體系

6.涂料、顏料、油漆、油墨、調色劑

7.食品、化妝品配方

8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀應用案例

  不同粒徑對Zeta電位等電點的影響          不同官能團配比對等電點的影響          Zeta電位值與細胞吸收度的關系

通過調整顆粒的粒徑或正負電荷官能團的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團和顆粒的靜電荷對動物細胞吸收度有著重大影響。（數據摘自JACS）

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀技術參數

1.粒度測量范圍：0.3nm～10μm

2.Zeta電位測量適用粒度范圍：1nm～100μm

3.樣品濃度范圍：0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關)

4.典型精度：1％

5.樣品類型：蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

6.樣品體積：1～3ml

7.分子量測定范圍：342～2×10⁷Dalton

8.電導率范圍：0～30S/m

9.電泳遷移率范圍：10^-11 ～ 10^-7 m² /V.s

10.電場強度：0 ～ 60 kV/m

11.電極：**性開放式電極，電極材料純鈀；耐腐蝕電極（選件）；微量電極（選件）

12.溫控范圍與精度：-5℃～110℃，±0.1℃。

13.pH測量范圍：1-14

14.激光源：40mW光泵半導體激光器（可選5mW He-Ne激光器）

15.檢測器：高靈敏雪崩型二極管（APD）

16.相關器：4×522個物理通道，4×10¹¹個線性通道，采用動態采樣時間及動態延遲時間分配

17.自動趨勢分析：對時間、溫度及其他參數

18.散射角：15°、90°與173°

19.室溫操作情況：10°C ～ 75°C，濕度 0% ～95%, 無冷凝

20.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg

21.電源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

22.計算機（選件）：商用計算機，包括Window^TM軟件

23.自動滴定儀（選件）：獨立四泵驅動，可對pH值、電導率和添加劑濃度作圖