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Nicomp 380 激光粒度儀 采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍0.3nm – 10μm。粒度分析復合采用Gaussian單峰算法和擁有專利技術的NiComp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有獨特優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品無可比擬的。整機采用模塊化設計,可靈活方便地擴展Zeta電位等其它功能。詳細介紹

Nicomp 380 激光粒度儀

基本概述：

Nicomp 380 DLS是納米粒徑分析儀器，采用現在先進的動態光散射原理，利用專利的Nicomp多峰算法可以很準確的分析比較復雜多組分混合樣品。為實驗室的研究提供最好的分析技術。 測試范圍：0.3 nm – 10μm。

產品介紹：

 Nicomp 380 DLS 采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3 nm- 6μm。粒度分析復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有專利技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有獨特優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品無可比擬的。